一、前言：

高加速應(yīng)力測試（HAST）作為模擬嚴(yán)苛濕熱環(huán)境的檢測，可快速評估電子元器件在高溫、高壓、高濕條件下的耐老化能力。AST 試驗箱適用于各類通用電子元器件的濕熱老化可靠性檢測。

二、測試準(zhǔn)備：

試樣選取：從同批次、同規(guī)格的電子元器件中隨機(jī)抽取試樣，數(shù)量根據(jù)測試需求確定，試樣表面無破損、污漬、變形等缺陷，且已完成前期常規(guī)性能檢測，數(shù)據(jù)合格。

設(shè)備檢查：確認(rèn) HAST 試驗箱的溫度、濕度、壓力控制系統(tǒng)運行正常，密封性能良好，溫濕度傳感器、壓力傳感器經(jīng)校準(zhǔn)且在有效期內(nèi)；準(zhǔn)備好試樣固定夾具、溫濕度記錄設(shè)備、性能檢測儀器等輔助工具。

試樣預(yù)處理：將試樣置于常溫常濕環(huán)境（溫度 23℃±2℃，相對濕度 50%±5%）中放置 24 小時，使試樣狀態(tài)穩(wěn)定。

三、測試流程：

步驟 1：試樣安裝

打開 HAST 試驗箱門，將試樣架平穩(wěn)放入試驗箱內(nèi)膽，根據(jù)試樣尺寸調(diào)整試樣架層間距，確保每層試樣架受力均勻。

使用鑷子夾取預(yù)處理后的試樣，按照編號順序?qū)⒃嚇庸潭ㄔ谠嚇蛹苌希潭ǚ绞揭圆粨p傷試樣、不影響試樣與濕熱環(huán)境充分接觸為原則：

對于小型片式元器件（如貼片電阻、電容），均勻平鋪于試樣架的透氣區(qū)域，試樣之間的間距不小于試樣自身尺寸的 1.5 倍，避免相互重疊、接觸。

對于帶引腳的元器件（如插件三極管、連接器），通過專用夾具將其豎直固定，引腳朝下，避免引腳間相互接觸造成短路，同時保證試樣主體暴露在試驗環(huán)境中。

試樣安裝完成后，檢查試樣數(shù)量、編號與安裝位置，確認(rèn)無誤后，將溫濕度記錄設(shè)備的探頭放置在試驗箱內(nèi)膽的中間位置（與試樣區(qū)域同高度），確保監(jiān)測數(shù)據(jù)能真實反映試樣所處環(huán)境。

步驟 2：試驗參數(shù)設(shè)置

操作 HAST 試驗箱的控制系統(tǒng)，進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，按照已確認(rèn)的測試方案依次設(shè)置參數(shù)：

溫度：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)定，常規(guī)范圍為 105℃~130℃，精度控制在 ±1℃。

相對濕度：常規(guī)設(shè)置為 85%~100%，精度控制在 ±2% RH。

壓力：根據(jù)設(shè)定溫度匹配對應(yīng)壓力，常規(guī)范圍為 0.07MPa~0.23MPa，精度控制在 ±0.005MPa。

試驗時間：根據(jù)測試需求設(shè)定，常規(guī)梯度為 24h、48h、72h、96h，時間精度控制在 ±10min。

運行模式：選擇 “自動運行" 模式，設(shè)置完成后，系統(tǒng)將自動保存參數(shù)。

再次核對所有設(shè)置參數(shù)，確保與測試方案一致，避免因參數(shù)設(shè)置錯誤導(dǎo)致測試失效。

步驟 3：試驗啟動與運行監(jiān)控

確認(rèn)參數(shù)無誤后，關(guān)閉試驗箱門，扣緊門鎖，按下控制系統(tǒng)的 “啟動" 按鈕，試驗箱開始進(jìn)入運行階段。

升溫升壓階段：試驗箱自動啟動加熱、加濕、加壓系統(tǒng)，溫度、濕度、壓力將逐步上升至設(shè)定值，此階段需持續(xù)觀察設(shè)備運行狀態(tài)，記錄升溫升壓的耗時，一般耗時不超過 60 分鐘。

恒溫恒壓恒濕階段：當(dāng)溫度、濕度、壓力均達(dá)到設(shè)定值并穩(wěn)定后，試驗箱進(jìn)入該階段，此時開始正式計時。運行期間，每 1 小時通過控制系統(tǒng)查看一次溫濕度、壓力數(shù)據(jù)，同時記錄溫濕度記錄設(shè)備的監(jiān)測數(shù)據(jù)，若發(fā)現(xiàn)參數(shù)出現(xiàn) ±2℃、±5% RH、±0.01MPa 的波動，需及時排查原因，若波動超出允許范圍且無法及時恢復(fù)，應(yīng)立即停止試驗。

試驗運行期間，嚴(yán)禁隨意打開試驗箱門，嚴(yán)禁觸碰試驗箱的加熱、加壓部件，防止發(fā)生安全事故。

步驟 4：試驗終止與試樣取出

當(dāng)試驗時間達(dá)到設(shè)定值后，試驗箱將自動觸發(fā)終止程序，進(jìn)入泄壓、降溫階段：

泄壓：系統(tǒng)將按照預(yù)設(shè)的速率緩慢泄壓，泄壓速率控制在 0.01MPa/min~0.02MPa/min，嚴(yán)禁手動強(qiáng)制泄壓。

降溫：泄壓完成后，系統(tǒng)啟動降溫裝置，使試驗箱內(nèi)膽溫度緩慢降至常溫（≤30℃），降溫過程中避免溫度驟降。

待試驗箱內(nèi)壓力恢復(fù)至常壓、溫度降至常溫后，打開箱門，靜置 10 分鐘，使箱內(nèi)水汽充分散發(fā)，再使用鑷子將試樣從試樣架上取下，按編號順序放入密封袋中。

取出試樣后，及時清理試驗箱內(nèi)膽，擦干殘留水汽，關(guān)閉設(shè)備電源，做好設(shè)備使用記錄。

步驟 5：試樣后處理

將裝有試樣的密封袋置于前期預(yù)處理的常溫常濕環(huán)境（溫度 23℃±2℃，相對濕度 50%±5%）中，放置 24 小時，使試樣從試驗后的濕熱狀態(tài)恢復(fù)至穩(wěn)定的環(huán)境狀態(tài)。

后處理期間，密封袋保持密封狀態(tài)，避免試樣接觸外界粉塵、水汽或受到外力碰撞。

步驟 6：試樣性能檢測

按照與試驗前一致的檢測方法和儀器，對后處理后的試樣進(jìn)行性能檢測，檢測項目根據(jù)電子元器件類型確定，核心檢測項目包括：

電阻類元器件：檢測標(biāo)稱電阻值、偏差率。

電容類元器件：檢測標(biāo)稱電容值、漏電流、損耗角正切。

半導(dǎo)體器件：檢測導(dǎo)通電阻、絕緣電阻、正向壓降。

通用項目：檢測引腳接觸電阻、元器件外觀狀態(tài)。

每完成一個試樣的檢測，及時記錄檢測數(shù)據(jù)，確保數(shù)據(jù)真實、準(zhǔn)確、可追溯，檢測過程中嚴(yán)格按照儀器操作規(guī)范執(zhí)行，避免操作誤差。